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日本ecginc匝間短路檢測儀DWX系列
更新日期:2024-05-15
訪問量:1163
廠商性質(zhì):經(jīng)銷商
生產(chǎn)地址:
簡要描述:
日本ecginc匝間短路檢測儀DWX系列DWX-01A【1000V】-05A【5000V】-10【10000V】低電感?線圈測試的決定版!10μH線圈波形清晰顯示
日本ecginc匝間短路檢測儀DWX系列
低電感?線圈測試的決定版!
10μH線圈波形清晰顯示
隨著電子器械的高度化,被使用的線圈部品也變得越來越小型化高周波了。DWX是一種 適合各種電感線圈測試的儀器。此儀器搭載了高速開關(guān)的脈沖電源,采用高速·A/D取樣 電路,成功的解決了目前較難的低電感線圈測試問題。
DWX系列的特點
成功的實現(xiàn)了目前較難的低電感線圈測試
隨著電子器械的高度化,被使用的線圈部品也變得越來越小型化高周波了。DWX是一種 可以對應(yīng)各種電感線圈測試的儀器。此儀器搭載了高速開關(guān)的脈沖電源,采用高速·A/D取樣 電路,成功的解決了目前較難的低電感線圈測試問題。 。
通過阻抗分壓提高了波形的準確度以及放電感應(yīng)的強度
脈沖波形入力回路中,因為采用了高性能阻抗分壓回路,所以能夠得到清晰準確的波形,而且提高了波形判斷能力以及放電檢出感應(yīng)度。
(*和本社DW?DWS系列(不含F(xiàn)類型)比較,大大提高了檢出感度。)
通過高速lOOMHz?8KPoint·取樣實現(xiàn)了高感度,高精度的測試
高速A/D取樣,可以準確的捕捉到低電感?線圈的極短脈沖應(yīng)答的同時,而且8KPoint?取樣的高精細數(shù)據(jù)判定,還可以確切判定微少芯波形。
應(yīng)用了Laplacian算法的放電量檢測,子窗口頁面顯示,清晰易懂
通過使用Laplacian演算的波形解析,抽取由高壓脈沖產(chǎn)生的放電成分,并在每個圖形的子窗口上直觀,易懂顯示放電測試。
8.4英寸?彩色TFT液晶畫面,清晰可見
保留了原有的AREA,DIF-AREA,FLUTTER等短路測試判定功能
波形判定中有AREA判定(面積比較)?DIF-AREA判定(波形差面積比較)?FLUTTER量檢出(放電量檢出)?LAPLACIAN量量檢出(放電量檢出)的檢查方法等多種組合,適用于各種線圈的測試試驗。
Compact Flash Memory Card?插卡標準裝備可以使標準波形無限擴張
日本ecginc匝間短路檢測儀DWX系列
DWX系列性能
DWX-01A | DWX-05A | DWX-10 | ||
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施加電壓?電壓可調(diào)檔位 ?施加能量 ※ 抵抗負荷為1KΩ | 50V~1000V (10V檔) 5m焦耳 | 500V~5000V (100V檔) 0.12焦耳 | 1000V~10000V (100V檔) 0.5焦耳 | |
測試電感范圍 | 10μH以上 | 10μH以上 | 50μH以上 | |
采樣?速度 / 內(nèi)存 | 8bit/10nano-sec.(100MHz) / 8192-Byte | |||
采樣?范圍 (WIDTH) | -4,-3,-2,-1,0,1,2,3,4,5 10個范圍(0 DW系列互換) | |||
測試輸入回路 | 電阻分壓(5MΩ) | |||
畫面顯示,波形顯示范圍 | 640×480(VGA),8.4寸彩色液晶,4色表示 512×256 | |||
判定方法 | 和標準波形比較 根據(jù)波形面積,波形差面積,放電量進行比較判定 線圈絕緣破壞電壓測試功能 | |||
標準波形 儲存容量 | 主機擴張 | 196種(14種/14頁) Compact Flash Memory700中(14種/50頁) | ||
外部接口 | 并行口I/O(Start,Reset,OK,NG,Busy,Master等) RS-232C(測試控制 測試數(shù)據(jù)) 打印機板(畫面硬拷貝等) EtherNet適配器(可選) | |||
附件 | 測試電纜線1.5M 1根,電源線1根(付3P轉(zhuǎn)換頭) Compact Flash Memory 1個,并行口I/O連接器1個 使用說明書?測試成績書 1份 | |||
使用條件 | 0℃~40℃ 電源電壓:100V~240V±10%(出廠時工廠設(shè)定) | |||
外形尺寸 (不含Carry Handle) ?重量 | 345(W)×185(H)×370(D) 約10Kg | 345(W)×325(H)×370(D) |